鴻海推非監督式AI 導入部分檢測產線降低50%人力

鴻海推出非監督式學習(Unsupervised Learning)人工智慧(AI)演算法「FOXCONN NxVAE」。(圖:鴻海提供)
鴻海推出非監督式學習(Unsupervised Learning)人工智慧(AI)演算法「FOXCONN NxVAE」。(圖:鴻海提供)

鴻海 (2317-TW) 今 (21) 日宣布,推出非監督式學習 (Unsupervised Learning) 人工智慧 (AI) 演算法「FOXCONN NxVAE」,解決產線中瑕疵樣本取得的問題,目前已導入集團部分產品外觀檢測生產線,降低 50% 以上的產線檢測人力。

鴻海指出,集團生產線品質良率早已超過 99%,累積的工業數據龐大,除了持續進行品質改善外,也讓 AI 得以發揮,助益產業發展,此次 AI 團隊研發非監督式學習演算法,降低產線新產品導入的陣痛期。

據了解,鴻海半導體事業群 AI 團隊歷時 8 個多月的研發,從架設 AOI 光學檢測設備,到產線採集產品外觀影像,期間因 COVID-19 疫情影響,團隊無法親臨產線,改由遠端工作模式,進行影像數據處理與 AI 演算法的開發與調適。

目前 FOXCONN NxVAE 已可全檢產品外觀常見的 13 類瑕疵,並達到 0 漏檢的客戶要求,降低 50% 以上的產線檢測人力,除提升整體工作效率外,也代表鴻海往智慧工廠的目標也更向前邁進一大步。

鴻海表示,相較一般監督式學習的 AI 算法為提升準確率,動輒需要數百至上千張瑕疵影像,才可取得 90% 以上的準確率,Foxconn NxVAE 運用正面表列的模型訓練方式, 沿用原本產線每日皆可取得的正樣本,解決瑕疵樣本取得的問題,可大幅度縮短客戶導入 AI 檢測的時間壓力。


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