芯測完整解決方案

文 / 理財周刊

亞洲唯一專注於記憶體測試與修復解決方案芯測（6786）獨家供應記憶體測試與修復解決並提供客製化設計的服務，主要產品包括 EDA 工具與 IP（矽智財）。隨著車市加溫，目前全球汽車大廠爭相投入的研發方向多以如何生產更安全、舒適、方便的高科技車輛為主要目標。芯測推出的 EDA 工具－START 與 EZ-BIST 不僅能協助開發單位更快、更省錢、品質更好的開發出符合 ISO 26262《道路車輛功能安全》規範的電子元件，其簡單、好用的特性，也深獲許多開發單位喜愛。

所謂 ISO 26262 是針對裝設在量產道路車輛電子電氣系統功能安全的國際標準。ISO 26262 針對車用電子的開發均有嚴格的規範，而芯測的 EDA 工具與客製化 IP 則可為車廠在各個開發階段中，提供完整解決方案。從設計階段開始，芯測的 START 與 EZ-BIST 內建高性能測試演算法，可協助車用電子晶片精準找出先進製程下的記憶體缺陷，並且透過 START 與 EZ-BIST 產生出低功耗與面積小的電路。進到量產階段後，開發單位則可透過 START 的各種修復功能，大幅降低 DPPM（百萬分之缺陷率）；同時，芯測的快速記憶體診斷方案也可為其大幅降低測試費用。

最後，到了線上測試階段，START 與 EZ-BIST 則可提供 POT（開機自我檢測）和 ECC（錯誤糾正碼）等功能，以符合線上測試需求。使用者更可以利用客製化 IP 服務，設計出符合車用電子規範的周期性測試功能。

而芯測用於汽車晶片開發的 EZ-BIST 是一個以 GUI（圖形使用者介面，也就是採用圖形方式顯示的電腦操作使用者介面）為主的 EDA 工具，並且可以提供給 MCU（微控制器；就像一台微型電腦，可廣泛應用於任何電子產品，提供記憶與運算功能）相關晶片客戶使用，例如：胎壓監控器、無線藍牙連接、車用電子相關晶片。

MCU 相關晶片的記憶體雖然較少，但是對於良率有很高的要求，所以ＭCU 類相關晶片需要使用 BIST（內置自檢；一種將附加硬件和軟件功能設計到集成電路中的技術，目的在於使其能執行自檢，減少對外部自動測試設備的依賴）精準掌控晶片良率，而 EZ-BIST 則成了良率的把關者角色。芯測的 EZ-BIST 可以在數分鐘內產生 BIST 電路，大幅降低ＭCU 類晶片產生 BIST 的電路時間。

此外，由於車用電子元件涉及到安全問題，一些重要的車用電子元件被要求有記憶體的修復電路以確保行車安全；而 START 則藉由最新的記憶體修復電路，提供開發車用電子晶片業者在記憶體修復工程上最佳的可靠度，滿足車用電子的即時安全性需求。

除了 EDA 工具外，芯測也提供車用電子晶片客製化 IP 的服務，以滿足各類車用電子晶片的需求。此外，START 與 EZ-BIST 皆可搭配微架構 IP，例如 POT（開機自我檢測）、ECC（錯誤糾正碼）、DＭT（動態記憶體測試）來滿足車用電子晶片對於安全性的高需求。簡言之，芯測的 START 與 EZ-BIST 以及客製化 IP 搭配微架構 IP 可以充分滿足開發單位對於 ISO26262 電子元件的規範，同時亦可更省時、省錢的開發出品質更好的車用電子晶片。

來源：《理財周刊》1090 期

更多精彩內容請至 《理財周刊》