愛德萬總裁獲「電子成就獎」最佳管理者獎

精實新聞 2013-05-13 記者 羅毓嘉 報導

測試設備大廠愛德萬測試(Advantest, NYSE: ATE)宣佈，該公司總裁暨執行長松野晴夫(Haruo Matsuno)獲得由半導體媒體電子工程專輯(EE Times)與電子技術設計(EDN)共同成立的「電子成就獎」(Annual Creativity in Electronics；ACE) 年度高階管理者獎，表彰愛德萬測試成功整合惠瑞捷(Verigy)，在IC測試設備領域持續其領導地位的成就。

愛德萬測試是全球自動化測試設備的龍頭供應商，專為電子設備與系統設計與製造廠商提供量測設備，現今全球先進半導體生產線上，均有採用該公司的測試系統產品。松野晴夫則是在2009年12月起擔任愛德萬測試的總裁暨執行長一職。

過去一年，愛德萬測試在松野晴夫帶領之下，與美國自動化測試設備供應商惠瑞捷成功整合，成為半導體界最大測試設備公司，同時充分整合2家企業文化，並為合併後人員依其專業妥善規劃愛德萬測試之適當職務，讓EE Times與EDN決定將電子成就獎的年度高階管理者獎頒予松野晴夫。

「電子成就獎」在授獎文告當中指出，松野晴夫任命前惠瑞捷德國高階主管掌管愛德萬測試旗下最大營收產品事業群、借重其多年豐富實務經驗與成功實績，領導團隊擴大競爭優勢，打破向來只拔擢母公司人才的日本傳統經營模式，並展現松野晴夫的洞察力與富國際視野的經營理念。

目前，愛德萬測試正積極深耕奈米和太赫茲(terahertz)技術發展，積極開發新興市場，近日更推出攸關光罩製造的多視角量測掃描式電子顯微鏡，以及突破現有技術限制的3D成像暨分析工具。