FinFET
南韓三星電子近日在 2026 年 VLSI 超大規模積體電路研討會上宣布,全球首次實現閘極間距 42 奈米的 3D 堆疊電晶體 (3D Stacked FET) 技術。傳統邏輯晶片依賴縮小電晶體橫向間距提升整合度,但若尺寸持續壓縮,薄層絕緣層易產生漏電干擾,但 3D 堆疊 FET 將原本並排放置的 N 型和 P 型電晶體上下堆疊,理論上一倍面積可容納兩倍電晶體。
2026-06-17
南韓三星電子近日在 2026 年 VLSI 超大規模積體電路研討會上宣布,全球首次實現閘極間距 42 奈米的 3D 堆疊電晶體 (3D Stacked FET) 技術。傳統邏輯晶片依賴縮小電晶體橫向間距提升整合度,但若尺寸持續壓縮,薄層絕緣層易產生漏電干擾,但 3D 堆疊 FET 將原本並排放置的 N 型和 P 型電晶體上下堆疊,理論上一倍面積可容納兩倍電晶體。