光衰

01-12

汎銓矽光子檢測技術跨步 獲台日發展專利 

檢測分析業者汎銓 (6830-TW) 近日獲得台灣及日本「矽光子光損偵測裝置」 的發明專利，並持續申請歐、美、韓、中專利，該專利涵蓋專門用於偵測半導體導光晶片之導光通道異常現象的裝置與工法，異常現象包括光衰、漏光和斷光偵測，能夠有效解決在矽光子積體光路 (PIC) 中常見的問題。