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精實新聞 2013-06-25 記者 羅毓嘉 報導
行動通訊應用內嵌NAND FLASH比重越來越高，相應的生產與測試需求也水漲船高，測試設備大廠愛德萬測試(Advantest)宣佈，專為NAND快閃記憶體與多晶片封裝(MCP)產品測試而設計的全新解決方案T5831正式推出，不僅提供經濟的測試解決方案，更可讓客戶加速整體產品上市時間，迎向NAND需求不斷放量的龐大商機。
愛德萬測試的T5831系統，主要鎖定應用於新一代行動IC(包括搭載高速ONFi或Toggle Mode介面的NAND快閃記憶體)、與Managed NAND裝置(如eMMC)的測試功能，可支援並行同測多晶片封裝 (MCP) 中的NAND快閃記憶體和行動DRAM。
愛德萬測試指出，全新的測試解決方案採模組化設計，提供可擴充性，並能以業界最快速度完成測試，展現高產能與低測試成本優勢；此系統的架構不僅可創造高產能，也能即時執行錯誤更正碼 (ECC) 分析，避免增加後處理測試時間成本。
愛德萬說明，相較於傳統的後處理方式，新解決方案的即時源同步(source-synchronous)功能可獲得最大產出效率、提高產能。
愛德萬測試記憶體測試事業執行副總裁山田弘益表示，T5831測試解決方案採用模組化設計提供現今客戶所需效能，且同時具備可擴充性，可讓客戶因應未來瞬息萬變的測試需求，協助客戶群將風險降至最低，讓客戶加速整體產品上市時間，迎向NAND需求不斷放量的龐大商機。
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