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立錡與宜特合作MEMS G-Sensor檢測方案

鉅亨網記者蔡宗憲 台北 2015-01-09 18:11


IC設計立錡(6286-TW)與宜特(3289-TW)今(9)日共同宣布MEMS檢測合作成果,雙方針對立錡積極開發的MEMS G-Sensor提出最佳分析除錯解決方案,基於宜特建構出的一代MEMS G-Sensor標準失效分析流程,2013年雙方已有成功合作經驗,2014年在二代MEMS分析技術上再度攜手合作,順利協助立錡在MEMS設計階段釐清失效因素,此分析技術更獲得ISQED(國際品質電子設計研討會)認可。

立錡與宜特指出,隨著智慧型產品、穿戴式裝置與物聯網的需求下,MEMS G-Sensor元件需求量逐步放大,IC設計公司也積極佈局,以取得市場先機佔有一席之地。


宜特指出,立錡是IC設計公司中積極佈局MEMS的領導廠商之一,宜特與立錡長期共同合作,從產品研發至試產階段,釐清MEMS G-Sensor失效因素,提供全方位整合服務。

立錡品保處處長翼景雲表示,雙方長期在產品可靠度與失效分析的合作基礎上,此次立錡在投入MEMS G-Sensor產品開發之時,在設計階段即與宜特緊密合作,宜特提供專業建議與支持。

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